化合物半導体・結晶材料

InP基板

InP基板

高品質と安定性はお客様より高い評価と信頼を得ています。Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体の InPを製造しております。最近の需要と製品要求に応える製品を提供しております。

製品名 InP(インジウムリン)基板
主な一次用途 発光素子、受光素子、超高速電子素子、赤外線検出器等

ラインナップ

  Size Orientation Dopant
InP基板 2inch
3inch
4inch
(100) S, Sn, Zn, Fe, None

用途例

基地局

基地局

データセンター

データセンター

光通信モジュール

光通信モジュール
(受発光素子)

太陽光発電

太陽光発電

InPの新しい用途へのご提案

高性能な衝突防止センサを実現可能

目に安全な波長でのレーザーレーダーを実現可能

InP基板の特徴

  • 光通信用の受発光素子材料として必須であるInP基板を長年提供しております。

高い加工精度

  • デバイス品質向上のため、高い加工精度のウェハを提供しております。
高い加工精度
TTV:1.5µm(4” InP wafer)
Total Thickness Variation

低転位欠陥密度

  • 当社結晶の育成最適化により、大口径基板において低転位の欠陥密度を実現しております。

TOP

低転位の欠陥密度を実現

Avg. 37 cm-2
Max. 664 cm-2

Bottom

Avg. 15 cm-2
Max. 581 cm-2

4-inch S-doped InP 基板 EPD マップ

エピ成長後のモフォロジー

  • 当社基板の面方位最適化により、エピ成長後の表面モフォロジーの良好化に寄与いたします。
エピ成長後のモフォロジー
InGaAs 0.05 μm
InP 2.1 μm
InGaAs 4.0 μm
InP 2.0 μm
S-InP Sub.

加工後の基板欠け防止技術

  • 当社基板端面の特殊加工により、デバイス製造プロセスにおける基板の割れ、欠けを低減する事が可能です。
=当社特殊加工により基板の割れ、欠けを低減

従来型加工

=当社特殊加工により基板の割れ、欠けを低減

新加工技術加工

電子顕微鏡による断面観察イメージ

基板表面不純物の低減

従来基板

基板表面不純物の低減

改善後基板

基板表面不純物の低減
お問い合わせ
ウェブから

24時間受け付けております。